显微激光测振仪 LV-S01-M03
显微激光测振仪LV-S01-M03是一款全新的集多功能于一身的非接触式振动测量仪器，也是一款可视化显微测量分析的理想工具。它可以通过显微光学系统实现对微小物体的振动测量，可以***测量MEMS等微小结构元器件的振动和形貌，激光光斑达微米量级，并可通过显微成像系统实时观察物体的振动状态（频率、速度、加速度、位移）等多维信息。
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单点激光多普勒测振仪 LV-S30
LV-S30激光多普勒测振仪采用的是非接触式的测量方法，具有出色的频率和相位响应，可准确地对各种物体的振动、位移、速度及加速度等进行测量，在满足高精度、高速测量需求的同时，还可以弥补接触式测量无法测量的缺陷。它主要由干涉仪及振动控制器两部分组成，并被广泛应用于各高校/研究所以及各大工厂，是振动测量的***仪器。
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激光位移传感器
激光位移传感器是一款基于三角法原理（激光器发出的激光打在被测物体上，当被测物体上下移动时，散射光通过透镜组成像到感光元件上产生了位移变化，经处理输出模拟变化量与数字显示位移值）的高性能、非接触式传感器，主要用来测量位移变化和物件厚度，实际应用于测量薄片的平面度和厚度、元器件的沟槽深度及切条刮片的变形等。
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差分光纤激光测振仪 LV-DFS01
光纤激光测振仪LV-DFS01采用紧凑型光学系统设计，光学头体积十分小巧，非常适用于空间受限的测量。它采用非接触式测量方法，目标测量距离在0m~10m之间（配备不同的光学头），具有优良的感光灵敏度，可以在不贴反光膜的情况下，测量黑色物体表面的振动，设备抗干扰能力强，具有极高的分辨率和动态测量范围，已广泛应用于各大高校、研究所和工厂，设备安装简单快捷，可实时获取振动数据。
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微型激光测振传感器LV-M200
微型激光测振传感器LV-M100核心光学系统采用集成光学芯片设计，具有高可靠性，低功耗，可实现小型化设计，非常适用于空间受限的测量。它采用的是非接触测量方法，可实现近距离（80mm-1000mm）高精度高分辨率的动态测试，设备抗干扰能力强，适应高温，潮湿等环境。
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多点激光测振系统LV-MP
LV-MP多点激光测振仪采用非接触式的测量方法，无需在被测物体上安装传感器，只需将激光束对准测量点，就可测量被测物体的振动数据，并具有FFT频谱分析功能。LV-MP多点激光测振仪可同时测量多个点的振动，可以测量物体瞬态的振动和实时振动模型。光束排列可根据用户需求选择。
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显微激光测振仪 LV-S01-M03
显微激光测振仪LV-S01-M03是一款全新的集多功能于一身的非接触式振动测量仪器，也是一款可视化显微测量分析的理想工具。它可以通过显微光学系统实现对微小物体的振动测量，可以***测量MEMS等微小结构元器件的振动和形貌，激光光斑达微米量级，并可通过显微成像系统实时观察物体的振动状态（频率、速度、加速度、位移）等多维信息。
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单点激光多普勒测振仪 LV-S30
LV-S30激光多普勒测振仪采用的是非接触式的测量方法，具有出色的频率和相位响应，可准确地对各种物体的振动、位移、速度及加速度等进行测量，在满足高精度、高速测量需求的同时，还可以弥补接触式测量无法测量的缺陷。它主要由干涉仪及振动控制器两部分组成，并被广泛应用于各高校/研究所以及各大工厂，是振动测量的***仪器。
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激光位移传感器
激光位移传感器是一款基于三角法原理（激光器发出的激光打在被测物体上，当被测物体上下移动时，散射光通过透镜组成像到感光元件上产生了位移变化，经处理输出模拟变化量与数字显示位移值）的高性能、非接触式传感器，主要用来测量位移变化和物件厚度，实际应用于测量薄片的平面度和厚度、元器件的沟槽深度及切条刮片的变形等。
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差分光纤激光测振仪 LV-DFS01
光纤激光测振仪LV-DFS01采用紧凑型光学系统设计，光学头体积十分小巧，非常适用于空间受限的测量。它采用非接触式测量方法，目标测量距离在0m~10m之间（配备不同的光学头），具有优良的感光灵敏度，可以在不贴反光膜的情况下，测量黑色物体表面的振动，设备抗干扰能力强，具有极高的分辨率和动态测量范围，已广泛应用于各大高校、研究所和工厂，设备安装简单快捷，可实时获取振动数据。
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微型激光测振传感器LV-M200
微型激光测振传感器LV-M100核心光学系统采用集成光学芯片设计，具有高可靠性，低功耗，可实现小型化设计，非常适用于空间受限的测量。它采用的是非接触测量方法，可实现近距离（80mm-1000mm）高精度高分辨率的动态测试，设备抗干扰能力强，适应高温，潮湿等环境。
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多点激光测振系统LV-MP
LV-MP多点激光测振仪采用非接触式的测量方法，无需在被测物体上安装传感器，只需将激光束对准测量点，就可测量被测物体的振动数据，并具有FFT频谱分析功能。LV-MP多点激光测振仪可同时测量多个点的振动，可以测量物体瞬态的振动和实时振动模型。光束排列可根据用户需求选择。
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