显微激光测振仪 LV-S01-M03
是一款全新的集多功能于一身的非接触式振动测量仪器，也是一款可视化显微测量分析的理想工具。它可以通过显微光学系统实现对微小物体的振动测量，可以***测量MEMS等微小结构元器件的振动和形貌，激光光斑达微米量级，并可通过显微成像系统实时观察物体的振动状态（频率、速度、加速度、位移）等多维信息。
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自聚焦激光测振仪 LV-S30
具有出色的频率和相位响应，可准确地对各种物体的振动、位移、速度及加速度等进行测量，在满足高精度、高速测量需求的同时，还可以弥补接触式测量无法测量的缺陷。它主要由干涉仪及振动控制器两部分组成，并被广泛应用于各高校/研究所以及各大工厂，是振动测量的***仪器。
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差分激光测振仪 LV-DFS01
采用紧凑型光学系统设计，光学头体积十分小巧，非常适用于空间受限的测量。它采用非接触式测量方法，目标测量距离在0m~10m之间（配备不同的光学头），具有优良的感光灵敏度，可以在不贴反光膜的情况下，测量黑色物体表面的振动，设备抗干扰能力强，具有极高的分辨率和动态测量范围，已广泛应用于各大高校、研究所和工厂，设备安装简单快捷，可实时获取振动数据。
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微型激光测振仪 LV-M200
采用集成光学芯片设计，具有高可靠性，低功耗，可实现小型化设计，非常适用于空间受限的测量。它采用的是非接触测量方法，可实现近距离（80mm-1000mm）高精度高分辨率的动态测试，设备抗干扰能力强，适应高温，潮湿等环境。
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多点激光测振仪 LV-MP
采用非接触式的测量方法，无需在被测物体上安装传感器，只需将激光束对准测量点，就可测量被测物体的振动数据，并具有FFT频谱分析功能。LV-MP多点激光测振仪可同时测量多个点的振动，可以测量物体瞬态的振动和实时振动模型。光束排列可根据用户需求选择。
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全场扫描式激光测振仪 LV-SC400
通过在单点激光测振仪前面加两个扫描镜，运动控制系统控制扫描镜的偏转角度，来实现X、Y方向上的扫描测振；配备摄像系统，可实现人机互动，配备软件分析系统，可实现二维、三维动画显示及数据分析等。全场扫描式激光测振仪为物体结构振动特性可视化测量分析提供了先进的非接触式测量技术，能快速扫描物体表面并灵活定义测量区域和测量点。为大型结构、高温、柔软物体等接触式测量无法满足的振动测量领域提供了良好的解决方案。
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显微激光测振仪 LV-S01-M03
是一款全新的集多功能于一身的非接触式振动测量仪器，也是一款可视化显微测量分析的理想工具。它可以通过显微光学系统实现对微小物体的振动测量，可以***测量MEMS等微小结构元器件的振动和形貌，激光光斑达微米量级，并可通过显微成像系统实时观察物体的振动状态（频率、速度、加速度、位移）等多维信息。
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自聚焦激光测振仪 LV-S30
具有出色的频率和相位响应，可准确地对各种物体的振动、位移、速度及加速度等进行测量，在满足高精度、高速测量需求的同时，还可以弥补接触式测量无法测量的缺陷。它主要由干涉仪及振动控制器两部分组成，并被广泛应用于各高校/研究所以及各大工厂，是振动测量的***仪器。
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差分激光测振仪 LV-DFS01
采用紧凑型光学系统设计，光学头体积十分小巧，非常适用于空间受限的测量。它采用非接触式测量方法，目标测量距离在0m~10m之间（配备不同的光学头），具有优良的感光灵敏度，可以在不贴反光膜的情况下，测量黑色物体表面的振动，设备抗干扰能力强，具有极高的分辨率和动态测量范围，已广泛应用于各大高校、研究所和工厂，设备安装简单快捷，可实时获取振动数据。
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微型激光测振仪 LV-M200
采用集成光学芯片设计，具有高可靠性，低功耗，可实现小型化设计，非常适用于空间受限的测量。它采用的是非接触测量方法，可实现近距离（80mm-1000mm）高精度高分辨率的动态测试，设备抗干扰能力强，适应高温，潮湿等环境。
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多点激光测振仪 LV-MP
采用非接触式的测量方法，无需在被测物体上安装传感器，只需将激光束对准测量点，就可测量被测物体的振动数据，并具有FFT频谱分析功能。LV-MP多点激光测振仪可同时测量多个点的振动，可以测量物体瞬态的振动和实时振动模型。光束排列可根据用户需求选择。
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全场扫描式激光测振仪 LV-SC400
通过在单点激光测振仪前面加两个扫描镜，运动控制系统控制扫描镜的偏转角度，来实现X、Y方向上的扫描测振；配备摄像系统，可实现人机互动，配备软件分析系统，可实现二维、三维动画显示及数据分析等。全场扫描式激光测振仪为物体结构振动特性可视化测量分析提供了先进的非接触式测量技术，能快速扫描物体表面并灵活定义测量区域和测量点。为大型结构、高温、柔软物体等接触式测量无法满足的振动测量领域提供了良好的解决方案。
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